‘상표·디자인’까지 특허 일괄심사

앞으로 특허 대상인 상표와 디자인까지 한꺼번에 심사 결과를 받을 수 있도록 제도가 개선된다. 특허청(청장 김영민)은 지난달 27일 기업의 사업 전략에 따라 다수의 출원을 원하는 시기에 맞춰 심사하는 일괄심사 제도를 이달 1일부터 상표와 디자인까지 확대 시행한다고 밝혔다. 이전까지는 특허와 실용신안만 한꺼번에 심사했지만 이 범위가 상표와 디자인까지 넓어진 것이다.

서류절차도 간소화됐다. 증명서류로 실시품 사진 및 거래영수증을 모두 제출해야 했지만 이젠 둘 중 하나만 제출해도 된다. 특히 영업비밀 보호를 위해 필요한 경우 신제품 사업준비 증명자료를 특허청에 제출하는 대신 심사관이 열람하는 방식으로 개선된다. 일괄심사 제도는 한번의 일괄심사 신청으로 여러 지재권을 기업이 원하는 시기에 심사해주는 맞춤형·원스톱 심사지원서비스다.