FITI시험연구원(원장 심우정)이 국내 최초로 재료표면 특성을 분석할 수 있는 초정밀 표면분석장비 ToF-Mini SIMS(이차이온질량분석기:Millbrook사)를 구축했다. 이에 따라 제품의 중요 특성을 결정하는 오염, 황변, 부식, 품질불량 등 문제를 근원적으로 해결할 수 있게 됐다.

물질의 표면은 항상 외부와 접하면서 화학적, 물리적인 반응이 내부보다 먼저 일어난다.
최근 섬유제품을 비롯 고분자 소재, 반도체, 금속 세라믹 등 여러 분야의 산업이 발전하면서 재료의 표면측정 및 분석이 큰 비중을 차지하고 있다.
특히 섬유제품은 표면과 색상에 대해 외부가속환경 변화에 맞춰 직접적인 정량적 평가 필요성이 커지는 추세다.
FITI는 색상과 물성들을 직접적인 정량적 평가가 가능해져 신속한 제품개발과 품질관리에 기대를 높였다.

SIMS(Secondary Ion Mass Spectrometry)분광학적 장치 원리는 일차이온빔으로 재료 표면을 충돌시키는 동안 방출하는 양이온 또는 음이온을 분석한다. 니응 이용 재료의 표면을 구성하고 있는 화학적 성분과 물질분포를 얻을 수 있다.
ToF-Mini SIMS를 활용하면 ▷Surface Spectrum : 표면의 대상물질 확인 ▷Surface Imaging : ppm 수준의 물질 분포도 ▷Depth Profiling : 1nm ~ 1㎛깊이의 물질분포 ▷Elemenfal and Molecular Imaging : 표면 또는 단면의 3D 이미지맵 등 4가지 표면 특성을 분석할 수 있다.